1/f 測試系統(tǒng)
1/f 測試系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹
比其它方案速度提升10倍 每個(gè)bias點(diǎn)只需要5秒，保證同樣的精度和帶寬，滿足統(tǒng)計(jì)測試要求。 | 業(yè)界最高噪聲靈敏度 不僅滿足模擬設(shè)計(jì)要求的nA級電流噪聲測試要求，還能滿足光器件暗電流的噪聲測試。
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全新“自適應(yīng)”系統(tǒng)噪聲消除算法實(shí)現(xiàn)低噪聲底和即插即用 適用于任何器件實(shí)驗(yàn)室，無需繁瑣復(fù)雜的安裝調(diào)試，10分鐘即可完成安裝，可為客戶提供試用。
| 多級放大器智能選擇保證高系統(tǒng)Roll-off頻率 即使測試小電流，NC300也能保證>100KHz的Roll-off頻率。 |
支持自動(dòng)機(jī)臺，多die，多晶圓測試 支持全部主流自動(dòng)機(jī)臺，也支持封裝器件測試。 | 支持存儲(chǔ)器RTN測量，MEMS器件底噪，Q，和諧振頻率測量以及多種模擬電路低頻噪聲分析，如背景噪聲，電源噪聲等 靈活拓展功能，適用于存儲(chǔ)器，MEMS，和模擬電路噪聲分析，不同于其它方案僅僅支持針對器件1/f噪聲建模，同時(shí)集成噪聲統(tǒng)計(jì)建模，電路分析，幫助用戶完成建模的同時(shí)分析噪聲對電路的影響。 |
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