多路OLED/QLED壽命測(cè)試機(jī)是由我司自主研發(fā)的一套可以測(cè)試OLED、QLED、鈣鈦礦發(fā)光、LED等發(fā)光器件的壽命系統(tǒng)，基于我公司自主研發(fā)的八通道高精密可程控電源模塊，真實(shí)模擬了OLED等發(fā)光器件的老化過(guò)程。每個(gè)測(cè)試通道可獨(dú)立控制、獨(dú)立采集、獨(dú)立顯示，避免了每個(gè)通道之間的干擾，所有模塊都具備高精準(zhǔn)、高穩(wěn)定性的特點(diǎn)，真實(shí)意義上實(shí)現(xiàn)了OLED/QLED等發(fā)光器件壽命的長(zhǎng)時(shí)間及大規(guī)模測(cè)試，完全可以滿(mǎn)足高校研發(fā)及企業(yè)產(chǎn)線(xiàn)上的需求。另外，壽命測(cè)試設(shè)備可搭配烘箱、恒溫恒濕箱等，模擬在惡劣環(huán)境條件下做測(cè)試